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超聲波探傷標準試塊
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SDH橫孔試塊僅在用試塊調整縱波直探頭探傷靈敏度時才使用。縱波直探頭探傷允許采用ゅ3，4，ゅ6當量平底孔三種靈敏度。
HS半圓階梯試塊(HS試塊)使用時，應將試塊置于適當的木架上。 作為支撐物的木架既不能有損于試塊，也不能產生任何阻尼。
SH-1半圓試塊可調整探測范圍，測定儀器的水平線性、垂直線性和動態范圍，測定斜探頭的入射點、折射角及調整探傷靈敏度。
7A/7B階梯測厚校準試塊 對比參考試塊 標準試塊 測厚階梯試塊 標準厚度塊 超聲波測厚試塊
5A/5B/5階梯超聲波測厚試塊 對比參考試塊 標準試塊 測厚階梯試塊 標準厚度塊 超聲波測厚試塊
4階梯測厚試塊 美國常規試塊 對比參考試塊 標準試塊 測厚階梯試塊 標準厚度塊 超聲波測厚試塊
4A 4B測厚階梯試塊 對比參考試塊 標準試塊 測厚階梯試塊 標準厚度塊 超聲波測厚試塊
橫波靈敏度試塊依據標準中技術2的要求而設計，該類試塊主要適用于標準技術2中橫波 檢測以平底孔為基準反射體，制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據檢測 范圍、平底孔直徑及所用探頭角度的不同共設計四個系列十二塊試塊。
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